SnLayer

Schichtdickenmessung auf Metallen

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Beschreibung

Bei der Beschichtung von Metallen genügen oft hauchdünne Schichten, um den gewünschten Effekt zu erreichen. Gleichzeitig sollen homogene dünne Schichten erzielt werden, die die geforderten elektrischen Eigenschaften erfüllen und über viele Jahre stabil sind. Wenige zusätzliche Mikrometer bedeuten dabei einen erhöhten, unnützen Verbrauch an wertvollem Material und damit nicht notwendige Kosten.

Mit dem Analysensystem SnLAYER der ECH wird die Schichtdicke auf Metallen mit einer einzigen Messung schnell und hochpräzise bestimmt. Dazu wurde ein neues elektrochemisches Verfahren entwickelt, welches auf der coulometrischen Voltammetrie basiert und sich an den Normen DIN 1787 und DIN 40500, Teil 5 orientiert. Das patentierte Potenzial-Scan-Verfahren ermöglicht die simultane Bestimmung von freiem und legiertem Anteil von Beschichtungen, z. B. Zinn auf Kupfer.

Eine typische Messung dauert weniger als fünf Minuten.

SnLAYER for determination of thickness of metal layers

SnLAYER Zur Bestimmung der Dicke metallischer Schichten

Anwendung

Messung der Zinnschichtdicke auf Kupferdrähten, -blechen, Drahtlitzen
Bestimmung von legiertem und unlegiertem Zinn
Analyse von Nickel, Silber, Kupfer und Legierungen auf Kupfer, Stahl, Percon und anderen Leiterplattenherstellung
Kabel- und Drahtherstellung
Qualitätskontrolle in Walzwerken
Anwendungen in der metallverarbeitenden Industrie

Vorteile

Komplettes Analysensystem zur Messung der Schicht-Dicke von Metallüberzügen
Unterscheidung von freiem und gebundenem Zinn
Schnelle Analysen
Einfache Bedienung
Intuitive Software
Umfangreiches Statistikmodul
Weiter dynamischer Bereich für verschiedene Drahtdurchmesser und Schichtdicken
Universell für verschiedene Schichtarten einsetzbar

Coulometric measuring cell - the sample is the working electrode

Features

Typische Messdauer: 8 min (freies und gebundenes Zinn), < 2 min (freies Zinn)
Hohe Präzision der Analysen
Stromfluss wird im aufgeprägtem Potentialbereich registriert, im Bereich von - 2000 mV bis + 2000 mV frei einstellbar, z. B. - 600 mV bis + 300 mV
Vordefinierte Methoden für ausgewählte Drahttypen
Methoden frei definierbar
Bestimmung der Masse der Beschichtung durch Integration des Stroms (Ladungsmenge)
Automatisierte Vorgänge
Bestimmung der Schichtdicke mit einer einzigen Messung in kürzester Zeit mit hoher Präzision
Entsprechend den gültigen Normen